CEM3000國內高分辨力臺式掃描電鏡搭載創新“鏡筒內加減速+復合透鏡設計"核心技術，解決低電壓場景下的成像痛點，為B端用戶提供“低損+高清+穩定"的微觀檢測新方案！ 一機多能，提升實驗室綜合效益。

是電鏡也是精密尺子！CEM3000A 幫您省去繁瑣制樣成本

對于企業實驗室而言，設備的投資回報率（ROI）不僅體現在采購價格，更體現在使用效率與耗材節省上。

CEM3000A 為您帶來顯而易見的降本增效價值：

1.節省制樣時間和耗材：得益于低電壓下的高清成像能力，您可以省去昂貴的噴金設備投入及靶材消耗，同時大幅縮短前處理時間，提升檢測通量 。

2.避免測量誤差帶來的返工：很多電鏡存在低倍率場曲或正交畸變，導致測量數據不可信。我們引入了外層線圈補償，將旋轉式補償標定電壓鎖定在90±0.2°，消除了X/Y方向的拉伸畸變。不管是測孔徑還是測線寬，數據都過硬，避免了因數據錯誤導致的研發誤判 。

3.降低人員培訓成本：操作界面的“傻瓜化"升級，如Focus Wobble（聚焦擺動）和自動消磁流程，讓新手也能迅速上手，減少了對操作員的依賴 。

投資一臺CEM3000A，就是投資一個高效、精準的微觀分析平臺。

技術解析

傳統掃描電鏡在低電壓（≤5kV）工況下，常因電子束能量不足、聚焦精度下降導致分辨率大幅降低，難以滿足敏感樣品的精細觀測需求。中圖儀器CEM3000A針對性升級，通過“鏡筒內加減速技術+復合透鏡結構"的深度協同，實現三大技術革新：

1.電子束“加速-減速"精準調控：鏡筒內先提升電子束能量確保穿透性，接近樣品時精準減速，既保證成像分辨率，又降低電子束對樣品的轟擊損傷；

2.復合透鏡優化聚焦：多組透鏡協同校正像差，即使在低電壓環境下，電子束仍能保持高會聚性，避免邊緣模糊、細節丟失；

3.全電壓段自適應適配：從250V超低電壓到20kV高電壓，分辨率始終穩定在優于4nm（SE模式），無需手動調整核心參數，切換工況更高效。

CEM3000國內高分辨力臺式掃描電鏡以“鏡筒內加減速+復合透鏡"核心技術，打破敏感樣品觀測瓶頸，為B端用戶提供“低損、高清、高效、省心"的微觀檢測解決方案。點擊咨詢，免費獲取敏感樣品定制檢測方案和免費樣品測試資格！

注：產品參數將根據技術迭代持續優化，故本產品資料中有關內容可能會根據實際情況隨時更新或修改，恕不另行通知，不便之處敬請諒解。